一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容：
最大尺寸長15mm*寬6mm*高10mm的產(chǎn)品的外觀檢測
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：漏裝螺絲
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺膠
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：腳歪
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：漏針
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：刮傷
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：腳歪
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺腳
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：漏薄片
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺膠
思普泰克一直致力于機器視覺檢測設(shè)備的研發(fā)制造，如需獲取產(chǎn)品檢測方案可登陸思普泰克官網(wǎng)咨詢查閱：naturest.com.cn
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 塑膠破裂、缺料 | 正光檢測 | 可檢 |
| 2 | 塑膠底部鼓起 | 正光檢測 | 可檢 |
| 3 | 塑膠打傷、拉傷、刮傷 | 正光檢測 | 可檢 |
| 4 | 漏裝五金 | 正光檢測 | 可檢 |
| 5 | 五金件變形 | 正光檢測 | 可檢 |
注明：以上檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
樣品圖：
二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 | 備注 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 | 數(shù)據(jù)可上傳 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
|
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
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| 4 | 工業(yè)相機 | Barsler工業(yè)相機 | 3套 |
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| 5 | 相機調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 3套 |
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| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 3套 |
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| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 3套 |
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| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺 | 1套 |
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| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
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| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 11 | PLC運動協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
|
設(shè)備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
底部正光檢測原圖：
底部正光檢測良品分析圖：OK
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：漏裝螺絲
底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺膠
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：腳歪
頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：漏針
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：刮傷
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：腳歪
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺腳
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：漏薄片
側(cè)面正光檢測不良品分析圖：NG 不良原因：缺膠
思普泰克一直致力于機器視覺檢測設(shè)備的研發(fā)制造，如需獲取產(chǎn)品檢測方案可登陸思普泰克官網(wǎng)咨詢查閱：naturest.com.cn
