序號(hào) | 檢測(cè)位置 | 檢測(cè)方式 | 是否可檢 |
1 | 毛邊、內(nèi)孔渣渣 | 頂部正光檢測(cè) | 可檢 |
2 | 缺口 | 頂部正光檢測(cè) | 可檢 |
3 | 尺寸內(nèi)外徑檢測(cè) | 頂部背光檢測(cè) | 可檢 |
注明:以上檢測(cè)項(xiàng)目,均需在影像下清晰可見才能檢測(cè)。
序號(hào) | 名稱 | 規(guī)格型號(hào) | 單位 | 數(shù)量 |
1 | 視覺檢測(cè)軟件 | Sipotek | 套 | 1 |
2 | 工業(yè)電腦 | 研祥sipotek定制 | 套 | 1 |
3 | 液晶顯示器 | Philips 19” | 臺(tái) | 1 |
4 | 工業(yè)相機(jī) | Basler acA1300-60gm | 臺(tái) | 3 |
5 | 工業(yè)鏡頭 | FA工業(yè)鏡頭 500w像素 | 臺(tái) | 2 |
6 | 工業(yè)鏡頭 | 定焦遠(yuǎn)心鏡頭 500w像素 | 臺(tái) | 1 |
7 | 玻璃轉(zhuǎn)盤 | 無色光學(xué)玻璃 | 件 | 1 |
8 | 電磁閥 | MAC兩位三通電磁閥 | 套 | 1 |
9 | 伺服電機(jī) | 松下 MHMF042L1U2M | 套 | 1 |
10 | 振動(dòng)盤及上料機(jī)構(gòu) | Sipotek定制 | 套 | 1 |
11 | 振動(dòng)柜 | Sipotek定制 | 套 | 1 |
四、樣件測(cè)試圖片:
1.低部正光檢測(cè)原圖:
2.底部正光檢測(cè)分析圖:OK
3.底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:孔內(nèi)渣渣 分析結(jié)果:可檢
4.底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:缺口 分析結(jié)果:可檢
6.頂部正光檢測(cè)原圖:
8.頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:孔內(nèi)渣渣 分析結(jié)果:可檢
9.頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:缺口 分析結(jié)果:可檢
10.頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:毛邊 分析結(jié)果:可檢
11 .頂部背光光檢測(cè)原圖:
12 頂部背光檢測(cè)分析圖:OK
13.頂部背光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:尺寸不良 分析結(jié)果:可檢
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