序號(hào) | 檢測(cè)內(nèi)容 | 檢測(cè)方式 | 是否可檢 | 備注 |
1 | 印字面沾異物 | 正面環(huán)形光源檢測(cè) | 可檢 |
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2 | 沾銀、擴(kuò)散 | 正面環(huán)形光源檢測(cè) | 可檢 | |
3 | 印銀方向反 | 正面環(huán)形光源檢測(cè) | 可檢 | |
4 | 裂紋、崩缺 | 正面環(huán)形光源檢測(cè) | 可檢 |
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5 | 印銀、電鍍不良 | 正面環(huán)形光源檢測(cè) | 可檢 |
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6 | 黑邊 |
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不可檢 | 特征不可見(jiàn) |
注明:電子元件光學(xué)篩選機(jī),均需在影像下清晰可見(jiàn)才能檢測(cè)。檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
序號(hào) | 部件名稱 | 規(guī)格型號(hào) | 數(shù)量 |
1 | 視覺(jué)檢測(cè)軟件 | SIPOTEK | 1套 |
2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺(tái) |
4 | 工業(yè)相機(jī) | Barsler工業(yè)相機(jī) | 2套 |
5 | 相機(jī)調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 2套 |
6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 2套 |
7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 2套 |
8 | 檢測(cè)平臺(tái) | 專業(yè)光學(xué)玻璃載臺(tái) | 1套 |
9 | 伺服電機(jī) | 松下·PANASONIC | 1套 |
10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
11 | PLC運(yùn)動(dòng)協(xié)作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
三、樣件測(cè)試圖片:
頂部正光檢測(cè)良品原圖:
頂部正光檢測(cè)良品分析圖:OK
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:電鍍不良
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:印銀不良
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:崩缺
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:中柱卡異物
頂部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:缺銀
底部正光檢測(cè)良品分析圖:OK
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:沾銀
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:印銀方向反
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:裂紋
底部正光檢測(cè)不良品分析圖:NG 不良特征:印字面異物
四、系統(tǒng)安裝要求:
更多電子元件光學(xué)篩選機(jī)篩選方案請(qǐng)登錄深圳思普泰克官網(wǎng)查閱:http://naturest.com.cn