一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容： 外觀檢測 樣件尺寸；25.5mmX5.7mm
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 檢測頂部外觀 | 頂部正光檢測 | 可檢 |
| 2 |
檢測底部外觀 |
底部正光檢測 | 可檢 |
| 3 | 檢測底部外觀 |
底部正光檢測 |
可檢 |
| 4 | 檢測側(cè)部變形 |
側(cè)部背光檢測 |
可檢 |
注明：以上檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量100~200件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
檢測準確率：檢后良品率≥99.99%。
不良品剔除：可針對不良種類進行分揀。
二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 名稱 | 規(guī)格型號 | 單位 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | Sipotek | 套 | 1 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | 研祥sipotek定制 | 套 | 1 |
| 3 | 液晶顯示器 | Philips 19” | 臺 | 1 |
| 4 | 工業(yè)相機 | Basler acA1300-60gm | 臺 | 4 |
| 5 | 工業(yè)鏡頭 | FA工業(yè)鏡頭 500w像素 | 臺 | 3 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | 定焦遠心鏡頭 500w像素 | 臺 | 1 |
| 7 | 玻璃轉(zhuǎn)盤 | 無色光學(xué)玻璃 | 件 | 1 |
| 8 | 電磁閥 | MAC兩位三通電磁閥 | 套 | 1 |
| 9 | 伺服電機 | 松下 MHMF042L1U2M | 套 | 1 |
| 10 | 振動盤及上料機構(gòu) | Sipotek定制 | 套 | 1 |
| 11 | 振動柜 | Sipotek定制 | 套 | 1 |
三、設(shè)備外觀圖
四、樣件測試圖片:
1.頂部正光檢測原圖：
2.頂部正光檢測分析圖：OK
3.頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：腐蝕 分析結(jié)果：可檢
4.底部正光檢測原圖
5.底部正光檢測良品分析圖：OK
6.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：刮傷 分析結(jié)果：可檢
7.底部正光檢測原圖：
8.底部正光檢測原圖：
9.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：電擊傷 分析結(jié)果：可檢
10.側(cè)部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：電鍍黑印 分析結(jié)果：可檢
11.側(cè)面部正光檢測原圖
12.側(cè)部正光檢測良品分析圖：OK
13.側(cè)部正光檢測良品分析圖：OK
14.側(cè)部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：變形 分析結(jié)果：可檢
15.側(cè)部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：未成形 分析結(jié)果：可檢
五、系統(tǒng)安裝要求:
設(shè)備放置的檢測空間: 在流水線外單獨安裝思普泰克視覺檢測系統(tǒng)，需要保證有足夠的空間以安裝設(shè)備。
環(huán)境溫度： 0-50攝氏度；
空氣濕度： 90% RH以下；
電子干擾： 為設(shè)備提供電子干擾較小的地方。
電源： 交流220V，50Hz， 耗電＜1KVA。
